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电子分析天平JF2004

  • 更新时间:  2016-08-04
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  • 简单描述
  • JF2004电子分析天平河北精威试验仪器
详细介绍

JF2004电子分析天平河北精威试验仪器


JF2004电子分析天平
JF系列精密电子天平采用新开发研制的特种合金材料一次加工成形的单体传感器,通过高性能单片微处理机控制,是集精准、稳定、多功能自动化于一体的zui先进的电子天平。
功能特点:
1.称量速度可调
2.多种称量单位转换
3.全量程去皮
4.超载显示
5.多种功能设置
规格参数:
称盘尺寸(mm):¢80
称量范围(g):200
重复性(≤±g):0.0001
线性(≤±g):0.0003
外型尺寸(mm):340*
200g/0.1mg  200g/0.1mg

 

 

 

 

 


 


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